GB/T 10587-2006

本頁面標(biāo)準(zhǔn)信息均來源于網(wǎng)絡(luò)收集，或由參與標(biāo)準(zhǔn)制定的供應(yīng)商提供，只作為參考使用，為確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性、節(jié)省您的時(shí)間，如需GB/T 10587-2006標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)信息或GB/T 10587-2006具體測(cè)試方法，請(qǐng)與我們技術(shù)人員聯(lián)系或給我們留言，我們將為您提供相關(guān)的技術(shù)支持。

GB/T 10587-2006簡介

GB/T 10587-2006發(fā)布于2006年4月3日，并于2006年10月1日起正式實(shí)施，

本標(biāo)準(zhǔn)自發(fā)布實(shí)施之日起代替GB/T 10587-1989。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鹽霧試驗(yàn)箱的術(shù)語和定義、使用條件、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志、包裝、貯存等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。

本標(biāo)準(zhǔn)是“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件”系列標(biāo)準(zhǔn)之一。該系列標(biāo)準(zhǔn)由以下幾項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)組成：

——GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

——GB/T 10587-2006 鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件

——GB/T 10588-2006 長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件

——GB/T 10589-1989 低溫濕熱箱技術(shù)條件

——GB/T 10590-2006 高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

——GB/T 10591-1989 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

——GB/T 10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

——GB/T 11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起代替GB/T 10587-1989《鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。

本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 10587-1989相比的主要變化如下：

a) 本標(biāo)準(zhǔn)增加了“術(shù)語和定義”一章，內(nèi)容采用IEC 60068-3-5和IEC 60068-3-6的相關(guān)部分;

b) 按IEC 60068-3-5的溫度波動(dòng)度的概念，溫度波動(dòng)度指標(biāo)改為1℃(見5.1.2);

c) 按IEC 60068-3-5的溫度數(shù)據(jù)記錄要求，改為每分鐘記錄一次數(shù)據(jù)(見6.3);

d) 擴(kuò)大了使用環(huán)境條件中大氣壓的范圍(4.1);

e) 修改了試驗(yàn)負(fù)載條件要求(4.3);

f) 對(duì)鹽霧箱的結(jié)構(gòu)要求作了補(bǔ)充;

g) 工作室內(nèi)的測(cè)試點(diǎn)數(shù)量與位置按GB/T 5170.8作了調(diào)整;

h)增加了電絕緣強(qiáng)度的要求(見5.3.1);

i) 溫度與鹽霧沉降率性能的測(cè)試改在空載條件下進(jìn)行(見6.2.2);

j) 增加了溫度偏差測(cè)量不確定度評(píng)定方法及其應(yīng)用的信息(見附錄B)。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A和附錄B為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T 10587-1989。